正文 第212节 方便

的USB接口,一些电子结构零件…

在逻辑EDA软件绘制完逻辑电路图后,接下来的工作,就是在PCBEDA软件对器件进行PCB封装制作,包括U盘芯片,存储器的封装,按键的封装…,同样,PCB封装是需要按照供应商提供的器件参数进行设计的…

在PCBEDA软件里制作好PCB器件封装后,然后,就是逻辑EDA软件和PCBEDA软件进行同步更新,把逻辑EDA的电路图导入到PCBEDA软件…,这样的话,就可以在PCBEDA软件里,出现了PCB封装器件和连接电路线路,

接着在PCBEDA软件,进行布局,走线,完成后,进行连接和规则检测,确定没有错误后,在PCBEDA软件输出制造PCB加工文件,发给大深市芯片产业有限公司旗下子公司PCB板厂进行PCB制作。

完成U盾电子电路设计后,就下了就是整理U盾的电子物料BOM得单子,供成本核算和电子物料准备

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同时,李飞还要组织软件工程师,编写u盾的驱动程序,以及加密算法程序...,其加密算法程序采用了双钥密码体制保证安全性,在U盾初始化的时候,先将密码算法程序烧制在FLASH中,然后通过产生公私密钥对的程序生成一对公私密钥,公私密钥产生后,密钥可以导出到U盾外...。

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编写完成U盾驱动程序以及加密算法程序...,台极电u盾主控芯片100片样品寄回公司,那么,开始对芯片进行功能...等测试

u盾主控芯片放入ATE仪器的测试台内的芯片插座后,打开仪器电源按钮,然后,确定ATE仪器与U盘主控芯片连接正常,再开始进行芯片测试,

ATE对芯片测试基本的范围为:芯片引脚的连通性测试,芯片漏电流测试,芯片引脚DC(直流)测试,芯片功能测试,芯片ESD静电测试,芯片老化测试(也就是芯片质量验证)

以及芯片稳定性测试,在温度(零下30度和高温50度)进行测试,确定芯片是否能正常工作…

先是对u盾主控芯片的引脚的连通性测试,芯片漏电流测试,DC(直流)测试,这是芯片测试的第一步,检测U盘主控芯片的连通性是否正常,确定U盾主控芯片的内部电路连通,芯片内部电路是否有缺陷。

再对u盾主控芯片测试的同时,u盾整机电路的测试也要同步,把U盾的电子元器件晶体,U盘主控芯片,RAM内存芯片,以及电阻电容,焊接到PCB主板,先是测试PCB主板电流和电压是否有问题,

u盾基本测试合格后,还要需要老化测试范围包括:温度,环境,电压,跌落…,例如电压测试:加速的方

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